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        超聲掃描顯微鏡

        產品描述:超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對材料科學,半導體行業等相應產品的內部缺陷檢測,利用高速線性馬達運動系統,對產品進行水浸C 掃描檢測,全波列采集超聲波信號,利用成像算法和數據圖像處理功能,對產品內部的缺陷進行有效識別,得到內部清晰圖像,并統計分析缺陷位置、形狀和尺寸,生成自定義報告。
        • 產品型號

          DLT-QC-210
        • 廠商性質

          生產廠家
        • 更新時間

          2024-06-25
        • 訪問量

          1146次

        超聲波C 掃描檢測系統 DLT-QC-210

        產品介紹

        超聲掃描顯微鏡

        超聲掃描顯微鏡DANA-QC210 用于對材料科學,半導體行業等相應產品的內部缺陷檢測,利用高速線性馬達運動系統,對產品進行水浸C 掃描檢測,全波列采集超聲波信號,利用成像算法和數據圖像處理功能,對產品內部的缺陷進行有效識別,得到內部清晰圖像,并統計分析缺陷位置、形狀和尺寸,生成自定義報告。

        二、產品特點 FEATURES

        適用產品:芯片、塑料封裝IC、PCB、金屬基板、晶片、半導體電子行業;Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,

        檢測結果穩定性、 一致性高;

        High stability and consistency of test results;

        高速定位,快速成像;

        High-speed positioning and fast imaging;

        操作簡單,使用安全,檢測結果格式多樣化;

        Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;


        技術參數 SPECIFICATIONS

        運動系統/Motion system  

        XY軸掃描范圍/Scanning range of XY axis 300*300mm   (可定制/Customizable)

        掃描速度/Scanning speed                                 1000mm/s

        重復精度/Repetition precision                                 1um


        超聲發射接收/   Ultrasonic emission and reception

        工作頻率范圍/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz

        激勵脈沖形式/Excitation pulseform                 方波/Square wave

        工作溫度/Working temperature                 -10℃~+50℃

        采樣率/Sampling rate                                 100MHz,  可支持,GHz/100MHz,Support IGHz

        重復頻率/Repetition frequency                  20khz

        數據傳輸率/Data transfer rate                                  5G

        采樣點數/Sampling points                                  4K (可定制)/4K(Customizable)

        增益調節/Gain adjustment                                 -13~66dB 連續1dB 可調/- 13~66dB  continuous  IdB  adjustable


        軟件功能/Software function

        A、B、C、D掃描圖像                                                  界面跟蹤、區域重掃

        A,B,C, D scanning imaging                                  Interface tracking, area re-scanning

        多種特征成像方式/Multiple imaging methods  多種數據處理、圖像處理方式

                                                                                          Multiple data processing and image processing methods

        缺陷定位統計分析/                                                       數據庫統計、自定義報告模板/

        Statistical analysis of defect location                         Database statistics, customizable report template



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